DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖动,可以实现异常准确的器件检定,全面支持 标准、时域反射计和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155Mb/s - 400G PAM4 的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。

产品参数

采样率 最大 300 kS/s
记录长度 50 - 16,000 点(IConnect® 为 1M 点,80SJNB 为 10M 点)
模拟带宽
模拟通道 最多 8 个

特点

优势

电气模块信号测量精度:
  • 超低系统抖动(<100 fs,典型值)
  • > 70GHz
<100 fs 本底抖动允许对高位速率(40 和 100 (4´25) Gb/s)设备进行检定,典型 <5% 的信号单位间隔由测试仪器所使用。70 GHz 带宽允许对高位速率信号进行完整检定(数据速率 28 Gb/秒的 5 阶谐波和数据速率 >45 Gb/秒的 3 阶谐波)。
在所有带宽上实现业内较低的系统噪声:
  • 最大值 600 µV(典型值 450 µV)@ 60 GHz
  • 最大值 380 µV(典型值 280 µV)@ 30 GHz
较大程度降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量,避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。
单台主机内最多 6 个通道同时采集 <100 fs 抖动。 多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试,提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。
光模块支持从 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太网所有标准速率的光一致性测试。 为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统,从 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s(SONET/SDH 和 40GBase 以太网)和 100 Gb/s 以太网(100GBase-SR4、-LR4 和 ER4),波长 850、1310 和 1550nm。
优异的采集吞吐量,采样率最高 300 kS/s。 通过优异的系统吞吐量,可将制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。
能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近。 远程采样头较大程度降低因 DUT 至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化,简化测试系统的反嵌。
独立的已校准通道相差校正。 双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正,消除时滞,增强多通道测量的信号保真度。

 

型号 采样率 记录长度 模拟带宽 模拟通道
DSA8300 最大 300 kS/s 50 点 - 16,000 点(IConnect® 为 1M 点,80SJNB 为 10M 点) 70 GHz 电接口,80 GHz 光接口 取决于使用的采样模块,最多8条通道

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